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镍电极MLCC排胶后残碳量及其电性能研究

蒋晋东 易凤举 陈沫言 程淇俊

电子与封装2025,Vol.25Issue(1):P.77-82,6.
电子与封装2025,Vol.25Issue(1):P.77-82,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0003

镍电极MLCC排胶后残碳量及其电性能研究

蒋晋东 1易凤举 2陈沫言 2程淇俊2

作者信息

  • 1. 中国航天宇航元器件工程中心,北京100094
  • 2. 成都宏科电子科技有限公司,成都610100
  • 折叠

摘要

关键词

MLCC/残碳量/排胶/电极连续性/电性能

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

蒋晋东,易凤举,陈沫言,程淇俊..镍电极MLCC排胶后残碳量及其电性能研究[J].电子与封装,2025,25(1):P.77-82,6.

电子与封装

1681-1070

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