电子元件与材料2024，Vol.43Issue(12)：P.1456-1462,7.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.0505
基于改进包络图神经网络的电子元件故障预测
摘要
关键词
自注意力/包络图神经网络/电子元件/故障预测/运行特性序列/故障概率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
余腾龙,汪庆文,黄康..基于改进包络图神经网络的电子元件故障预测[J].电子元件与材料,2024,43(12):P.1456-1462,7.基金项目
国网江西省电力有限公司科技项目资助(52183523000F)。 （52183523000F）
