电子与封装2025，Vol.25Issue(2)：P.25-29,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0029
基于故障监控的CPU测试平台设计
刘宏琨 1王志立 1王一伟 1张凯虹 1奚留华1
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- 1. 无锡中微腾芯电子有限公司,江苏无锡214072
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摘要
关键词
ATE测试/实装测试/测试板设计/故障诊断分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘宏琨,王志立,王一伟,张凯虹,奚留华..基于故障监控的CPU测试平台设计[J].电子与封装,2025,25(2):P.25-29,5.
