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GaN功率放大器输出功率下降失效分析

张茗川 戈硕 袁雪泉 钱婷 章勇佳 季子路

电子与封装2025,Vol.25Issue(2):P.68-73,6.
电子与封装2025,Vol.25Issue(2):P.68-73,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0017

GaN功率放大器输出功率下降失效分析

张茗川 1戈硕 1袁雪泉 1钱婷 1章勇佳 1季子路1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京210016
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摘要

关键词

功率下降/背金/热阻

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张茗川,戈硕,袁雪泉,钱婷,章勇佳,季子路..GaN功率放大器输出功率下降失效分析[J].电子与封装,2025,25(2):P.68-73,6.

基金项目

江苏省重点研发计划(BE2022070-2)。 (BE2022070-2)

电子与封装

1681-1070

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