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基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案

周中顺 夏蔡娟 李连碧 李飞飞

电子与封装2025,Vol.25Issue(2):P.34-38,5.
电子与封装2025,Vol.25Issue(2):P.34-38,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0027

基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案

周中顺 1夏蔡娟 2李连碧 2李飞飞3

作者信息

  • 1. 西安工程大学理学院,西安710048 苏州飞盈微电子有限公司,江苏苏州215123
  • 2. 西安工程大学理学院,西安710048
  • 3. 苏州飞盈微电子有限公司,江苏苏州215123
  • 折叠

摘要

关键词

ATE/Chroma 3380P/FT测试/C6100TS三温平移式分选机

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周中顺,夏蔡娟,李连碧,李飞飞..基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案[J].电子与封装,2025,25(2):P.34-38,5.

基金项目

等离子体物理国家重点实验室项目(6142A04230302) (6142A04230302)

陕西省重点研发计划项目(2023-YBGY-196) (2023-YBGY-196)

陕西数理基础科学研究项目(22JSY030、22JSY012) (22JSY030、22JSY012)

陕西省教育厅服务地方专项(22JC033)。 (22JC033)

电子与封装

1681-1070

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