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塑封器件内部结构对注塑空洞影响研究

马明阳 万达远 李耀华 叶自强 赵澎 曹森 欧彪

电子与封装2025,Vol.25Issue(8):P.73-78,6.
电子与封装2025,Vol.25Issue(8):P.73-78,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2025.0088

塑封器件内部结构对注塑空洞影响研究

马明阳 1万达远 1李耀华 1叶自强 1赵澎 2曹森 1欧彪1

作者信息

  • 1. 深圳市国微电子有限公司,广东深圳518000
  • 2. 长沙安牧泉智能科技有限公司,长沙410083
  • 折叠

摘要

关键词

半导体塑封器件/内部结构/注塑空洞/良率

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

马明阳,万达远,李耀华,叶自强,赵澎,曹森,欧彪..塑封器件内部结构对注塑空洞影响研究[J].电子与封装,2025,25(8):P.73-78,6.

电子与封装

1681-1070

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