电子元件与材料2025，Vol.44Issue(12)：P.1481-1488,8.DOI:10.14106/j.cnki.10012028.2025.0322
Gamma-深度高斯过程耦合建模的多层聚合物铝电容动态可靠性评估
陶建洲 1朱平 1刘泽鹏 1吕子龙1
作者信息
- 1. 中北大学仪器与电子学院,山西太原030051
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摘要
关键词
多层聚合物铝电容/退化建模/伽马过程/深度高斯过程/剩余使用寿命分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陶建洲,朱平,刘泽鹏,吕子龙..Gamma-深度高斯过程耦合建模的多层聚合物铝电容动态可靠性评估[J].电子元件与材料,2025,44(12):P.1481-1488,8.
