电子与封装2026，Vol.26Issue(2)：P.60-65,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0023
基于RISC-V的抗单粒子加固研究
徐文龙 1李凯旋 1许峥 1姚进 1周昕杰1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
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摘要
关键词
单粒子翻转/单粒子闩锁/抗辐射加固分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
徐文龙,李凯旋,许峥,姚进,周昕杰..基于RISC-V的抗单粒子加固研究[J].电子与封装,2026,26(2):P.60-65,6.
