电子与封装2026，Vol.26Issue(2)：P.19-26,8.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2026.0020
基于FPGA的QDR Ⅱ+型同步SRAM测试系统的设计与实现
石珂 1张萌 1张新港 1孙杰杰1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
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摘要
关键词
QDRⅡ+型同步SRAM/FPGA/板级测试/CY7C1645KV18分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
石珂,张萌,张新港,孙杰杰..基于FPGA的QDR Ⅱ+型同步SRAM测试系统的设计与实现[J].电子与封装,2026,26(2):P.19-26,8.
