电子元件与材料2026，Vol.45Issue(7)：P.861-865,5.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2026.1511
多层瓷介电容器高加速寿命试验与失效分析
季航 1李昆伦 1门柯润 1艾凯旋 1张玉兴 1范鑫 1何志刚1
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000
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摘要
关键词
多层瓷介电容器/高加速寿命试验/击穿电压/P-V模型分类
通用工业技术引用本文复制引用
季航,李昆伦,门柯润,艾凯旋,张玉兴,范鑫,何志刚..多层瓷介电容器高加速寿命试验与失效分析[J].电子元件与材料,2026,45(7):P.861-865,5.
