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- 层析γ扫描中的探测效率刻度北大核心CSCDCSTPCDAbstract:探测效率刻度技术是层析γ扫描测量中最重要的技术之一.本工作研究用蒙特卡罗方法刻度层析γ扫描系统探测效率的方法.对3×3×3体素组成的样品模型,用蒙特卡罗软件计算了层析γ扫描测量装置的探测效率矩阵.在实验室层析γ扫描原型装置上,实验研究了层析γ扫描测量装置的探测效率.对两者进行了比较,相对偏差绝对值小于5%.研究结果表明了蒙特卡罗方法刻度层析γ扫描测量装置探测效率的可行性.
- 液闪测量低能β核素的放射性活度北大核心CSCDCSTPCD
- 使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度北大核心CSTPCDAbstract:CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度.利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了 10~260 keV能量段能点的本征探测效率,在10~60 keV能量段探测效率高于75%.用单能X射线装置和HPGe探测器对CdTe探测器本征探测效率进行了实验刻度.结果表明,在10~100 keV能量范围内CdTe探测器的模拟效率与实验效率趋势一致,最大误差不超过5.6%.因为Te元素在27 keV…More>>