- 年份
- 2024（1）
- 核心收录
- 中国科技论文与引文数据库(CSTPCD)（1）
- 北京大学中文核心期刊目录(北大核心)（1）
- 刊名
- 现代电子技术（1）
- 语种
- 汉语（1）
- 关键词
- Arrhenius模型（1）
- 加速退化试验（1）
- 激活能（1）
- 脉宽调制器（1）
- 贮存寿命（1）
- 退化敏感参数（1）
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- 作者
- 孙高宇（1）
- 彭珂菲（1）
- 游文超（1）
- 黄姣英（1）
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- 基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究北大核心CSTPCD