- 年份
- 2021(1)
- 2005(1)
- 核心收录
- 中国科学引文数据库(CSCD)(2)
- 北京大学中文核心期刊目录(北大核心)(2)
- 中国科技论文与引文数据库(CSTPCD)(1)
- 刊名
- 原子能科学技术(2)
- 作者单位
- 中国原子能科学研究院(2)
- 北京师范大学(1)
- 语种
- 汉语(2)
- 关键词
- 金硅面垒探测器(2)
- T(d,n)4He反应(1)
- 中子注量率(1)
- 伴随粒子法(1)
- 卢瑟福背散射(1)
- 厚度(1)
- 薄靶(1)
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- 作者
- 于伟翔(1)
- 仇猛淋(1)
- 付光永(1)
- 仲启平(1)
- 党永乐(1)
- 刘伏龙(1)
- 卢涵林(1)
- 吴笛(1)
- 杨婉莎(1)
- 樊启文(1)
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- 伴随粒子法测量T(d,n)4He中子源注量率中的本底处理北大核心CSCD摘要:T(d,n)4He反应单能中子源广泛应用于14 MeV中子的各种物理实验.采用伴随粒子法测量中子注量率,用金硅面垒探测器测量α粒子,用1 μm厚Al箔屏蔽散射的d束,经过各种条件下的调节,系统可很好地直接在能谱上分辨各种粒子,从而获得较高精度的中子注量率.
- RBS法测量重元素衬底上轻元素薄靶厚度的方法研究北大核心CSCDCSTPCD