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已找到 102 条结果
- 测量MCP特性参数的紫外光电法CSCD
- 微通道板斜切角对像增强器性能的影响研究CSTPCD摘要：采用试验对比分析的方法,从MCP斜切角对像增强器的MCP噪声因子、分辨力、MCP增益三方面的影响展开研究.试验结果表明,MCP斜切角在5°～12°范围内时,MCP噪声因子与MCP斜切角呈抛物线关系,当MCP斜切角为9°时,MCP噪声因子最小;分辨力与斜切角呈负相关关系,当MCP斜切角为5°时,分辨力最大;MCP增益随斜切角的增加呈抛物线变化,当MCP斜切角为9°时,MCP增益最大.这主要是因为改变MCP斜切角后,光电子进入MCP通道前…查看全部>>
- NASA计划建造基于激光的卫星跟踪网络北大核心
- 微通道板2.0～5.5 keV X射线透过率标定北大核心CSCDCSTPCD
- MCP选通X射线皮秒分幅相机研制进展CSCD
- 光电成象技术及器件
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- 新一代二维通道电子倍增器的薄膜连续打拿极北大核心CSCDCSTPCD
- 微通道板SiO2防离子反馈膜技术研究北大核心CSCDCSTPCD
- 射频磁控溅射制备SiO2防离子反馈膜工艺探讨摘要：利用射频磁控溅射方法,在微通道板输入面上做出了性能满足使用要求的SiO2防离子反馈膜.对防离子反馈膜进行了理论分析,对所制备的SiO2防离子反馈膜进行了电子透过率测试.